令和7年度 春期 応用情報技術者試験 午前 問54

システムテストにおける テスト密度 と 欠陥密度 を用いた品質評価に関する問題です。

テスト密度は「システムの規模に対するテストケースの割合」、欠陥密度は「システムの規模に対する検出された欠陥の割合」を指します。

正解が「ウ」であることから、領域④は「テスト密度は基準を満たしている（80%以上）が、欠陥密度が基準値の下限（80%）を下回っている」状態を示していることが分かります。
この状態は、テストケースの数は十分に消化されているものの、想定される数の欠陥が検出されていないことを意味します。この場合、対象システムの品質が極めて高い可能性もありますが、一般的にはテストの質が低く、潜在的な欠陥を見つけられていない可能性を疑います。そのため、テストの観点に漏れがないかなど、テストケースの妥当性を確認する必要があります。

各選択肢の解説

• ア: 欠陥密度が基準を満たしている（正常な）領域における対応です。領域④は欠陥密度が少ない異常値であると考えられるため不適切です。
• イ: 欠陥密度が基準を上回っている（120%以上など、欠陥が多すぎる）領域における対応です。
• ウ: 正解です。テスト密度は十分であるにもかかわらず欠陥密度が低い場合、テストケースの品質（欠陥を見つける能力）を疑い、妥当性を確認します。
• エ: テスト密度が基準を下回っている（テストケース自体が不足している）領域における対応です。